可靠性百科 | 加速壽命試驗
[ 來源：蓉矽半導體 時間：2023-02-24 閱讀：6201次 ]
何為“加速壽命試驗”
加速壽命試驗（Accelerated Life Testing，ALT）是通過加強應力，并結合物理失效規律相關的統計模型，在短時間內預測出產品在正常應力下的壽命特征的一種試驗方法。
常用的加速壽命試驗類型
加速壽命試驗的意義：
1）縮短壽命試驗周期；
2）結果可用于電子產品可靠性評價、制定可靠性篩選依據；
3）結合失效分析，可以找到可靠性失效短板；
常用的加速應力
加速試驗中的應力為廣義概念，包含產品壽命期內對產品壽命造成影響的所有條件，常用的應力有：
1）熱應力（如溫度）；
2）電應力（如電壓、電流、功率）；
3）濕應力（如濕度）；
4）化學環境（如氣體濃度、鹽度）；
5）機械應力（如振動、摩擦、壓力、載荷、頻率）；
6）輻射。
截尾壽命
定義：一種將投試驗品試驗到部分失效就停止，并且通過已知的失效數據進行統計分析推導出完整壽命分布的實驗方法。
分類：定時截尾壽命試驗 & 定數截尾壽命試驗
意義：縮短試驗時間
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